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Aigtek高壓放大器在液晶顯示圖像殘留研究中的應用

更新時間:2025-03-25      瀏覽次數:125

  實驗名稱:納米粒子摻雜對響應時間的影響

  測試設備:高壓放大器、信號發生器、示波器、熱臺控制器、衰減器、探測器等。

  實驗過程:


VAN盒響應時間的測量裝置


  圖1:VAN盒響應時間的測量裝置

  響應時間也是影響液晶顯示圖像殘留的重要參數,響應時間越短越不容易產生圖像殘留。實驗中測量響應時間的裝置如圖1所示,光源為632.8nm的紅色激光,光源經過衰減器、可調光闌、偏振片和λ/4波片后成圓偏振光,經過起偏器后成線偏振光,起偏器與檢偏器的光軸方向成90°,熱臺控制液晶盒的溫度為28°C。信號發生器輸出1kHzAC方波信號和DC信號的組合波形,組合波形的周期為2s,經高壓放大器放大后施加在液晶盒上。當電壓超過液晶盒閾值電壓后,探測器會檢測到光強的變化并傳輸到示波器上,通過示波器可以觀察到液晶的動態響應過程。

  實驗結果:


不同摻雜濃度γ-Fe2O3納米粒子與負性LC混合物在VAN盒中的下降和上升時間


  圖2:不同摻雜濃度γ-Fe2O3納米粒子與負性LC混合物在VAN盒中的下降和上升時間


不同摻雜濃度與響應時間的關系


  圖3:不同摻雜濃度與響應時間的關系(a)歸一化透過率與下降時間的關系;(b)歸一化透過率與上升時間的關系;(c)下降時間與摻雜濃度的關系;(d)上升時間與摻雜濃度的關系

  實驗測得的不同摻雜γ-Fe2O3納米粒子濃度對響應時間的影響如圖2所示,由圖可知納米粒子摻雜對響應時間有一定的影響。圖3(a)和圖3(b)分別給出了下降時間和上升時間的放大圖,其中下降時間為去電壓過程,上升時間為加電壓過程;由圖3(c)和圖3(d)可以看出上升時間和下降時間均隨摻雜濃度的增加先降低后升高,并在摻雜濃度為0.034wt%時達到低值,在摻雜濃度為0.034wt%時,下降時間可以縮短8.11%,上升時間可以縮短15.49%。SRDCV與響應時間隨γ-Fe2O3納米粒子摻雜變化規律一致,說明γ-Fe2O3納米粒子的摻雜有效改善了VAN顯示模式的圖像殘留現象。

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